Tester + Handler全套解决方案，全自研、全把控、售后无忧

极速测试体验，测试速度可达1200UPH，测试站自由拓展搭配

全面覆盖测试种类，可实现高温、大电流、短路测试等

300ns保护时间，最大限度保护系统和探针卡

测试参数：V(BR)DSS,IDSS, IGSS, RG(int), VGS(th), Ciss, Coss, Crss, RDS(on), VF, gfs, IDS=f(VDS), IDS=f(VGS)

典型测试精度：IGS: 0.100% + 500 pA (@10nA), IDS: 0.2% ± 25mA (@500A), VGS: 0.02% + 2.4 mV (@20V), VDS: 0.1% + 1V (@3000V), C: 0.10%

测试能力：最高支持 3500V, 500A

测试温度：室温至200℃

测试参数：Tdon, Tdoff, Tr, Tf, Eon, Eoff, didton, didtoff, dvdton, dvdtoff, Imax, Vmax, Tsc, Esc, Psc, Isc

典型测试精度：IDS: 4%, VGS: 1.5%, VDS: 2%

测试能力：最高支持 2000V, 3000A

测试温度：室温至200℃

测试参数：IAS, VDS, EAS

典型测试精度：IDS: 2%, VGS: 1.5%, VDS: 2%

测试能力：最高支持 2000V, 125mJ

测试温度：室温至200℃