忱芯科技SiC MOSFET双极性退化测试用加电电流源针对功率半导体器件的特征分析与测试而设计，输出模块编程可控，支持自动化测试，可广泛应用于各类半导体器件的抗大电流冲击能力测试等。可输出脉宽范围50us—10ms的三角波电流或方波电流，具有输出精度高，电流上升时间快的特点。
输出脉宽范围50us~10ms；5A~500A最大脉宽10ms，1000A~2000A脉宽50us
可输出脉宽范围50us—10ms的三角波电流
输出精度：±(1%+2A)
电流最快上升时间：<20us
支持最大10ADC恒流输出模式
精度指标：输出精度：1%；测量精度：0.5%
通讯接口：以太网
供电方式：220V/110V AC
