KGD (Known Good Die) 测试系统针对切割后的功率半导体芯片，全自动化供料卸料、视觉检测、参数测试、数据记录、样品分类，进行全面的零瑕疵性能检测，筛选合格芯片保证封装后功率半导体模块的良率。
● 搭配Edison Frontier和Maxwell Frontier ATE系列测试机头，实现完整的动态参数测试（包括开关特性测试、短路测试、雪崩测试）和静态参数测试；
● 常温、高温测试站灵活搭配。
