Acheson系列
功率半导体SiC MOSFET
KGD测试系统

KGD (Known Good Die) 测试系统针对切割后的功率半导体芯片,全自动化供料卸料、视觉检测、参数测试、数据记录、样品分类,进行全面的零瑕疵性能检测,筛选合格芯片保证封装后功率半导体模块的良率。

产品特点
灵活选配测试站

 

●  搭配Edison Frontier和Maxwell Frontier ATE系列测试机头,实现完整的动态参数测试(包括开关特性测试、短路测试、雪崩测试)和静态参数测试;

●  常温、高温测试站灵活搭配。

 

产线应用下的高可靠性

 

测试系统配备了全方位的保护装置,包括过流和过压保护电路、气压检测、温度保护、开路短路检查、探针保护等,确保产线可靠运行。

 

产品规格