Faraday全自动产线系列
Faraday系列产线全自动版SiC功率器件测试系统可实现与功率模块封装生产线的深度融合,全自动上下料,半桥SiC功率模块测试时间在12s以内。
测试系统兼容性高,可定制匹配不同封装的SiC功率半导体模块产品,动态参数的检测项目和计算标准可根据客户需求进行调整。
 
测试范围:单脉冲、双脉冲、一类短路等
器件类型:IGBT & SiC MOSFET
标配封装:塑封功率模块
塑封模块300UPH的极速测试体验
超低杂感≤18nH
 
泰克战略合作伙伴
产品特点
业内最低回路杂感 ≤10nH
超强驱动能力,抗共模抑制比 >100V/ns
更极速的测试效率
半桥碳化硅模块测试效率~300UPH
兼容工厂MES系统
适配全自动生产线
产品规格
  • 采样
    项目 指标
    测试采样频率 6.25GS/s
    示波器测量带宽 2GHz
    电流测试最高带宽 800MHz
    电压测试最高带宽 1GHz
  • 测试能力
    项目 指标
    测试最高电压 1500V
    最大测试电流 4000A
    最大短路电流 10000A
    测试电感 20-500uH(分档可调)
  • 测试精度
    项目 指标
    直流电源电压精度 ±3% ±10V
    电流测试精度 ±3% ±10A
    门级驱动电压精度 ±3% ±0.1V
    温度控制精度 ±1℃
  • 门级驱动
    项目 指标
    开通电压 +25V(开通、关断电压差不超过30V)
    关断电压  -15V(开通、关断电压差不超过30V)
    最大电流 15A
    驱动电阻 0-255Ω (手动调整)
  • 器件类型
    项目 指标
    测试器件类型 SiC MOSFET、Si IGBT
    测试封装类型 单管、HPD模块(其他封装可定制夹具)
  • 温度
    项目 指标
    测试设备工作温度 15-40℃
    DUT测试温度范围 标配:室温℃~250℃ / 选配:-40℃低温测试