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PRODUCT
产品中心
碳化硅功率半导体模块动态特性测试装备
主要用于SiC功率半导体模块等功率半导体器件的开关特性与短路特性测试与分析
更高的可靠性
关键技术由电力电子国际顶尖团队正向研发
更高的测试效率
一次测试可自动获取30余项功率器件测试关键参数
更高的精度
超低回路电感设计(~15nH); 1GHz测量带宽
更低的价格
以中国本土价格享受国际一流品质
产品参数
Edison系列自动化碳化硅功率半导体器件动态特性测试装备是功率半导体模块动态性能参数和寄生电感的全自动化测试与分析设备。主要用于SiC功率半导体模块等功率半导体器件的双脉冲(Double Pulse Testing),单脉冲(Single Pulse Testing)和短路安全工作区(SCSOA)测试,测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。
Sampling
测试采样频率 10GS/s
示波器测量带宽 2GHz
电流测试带宽 200MHz
电压测试带宽 200MHz
测试能力 Test Ability
测试最高电压 2000V
最大测试电流 1500A
回路电感 ~15nH
测试电感 10-1000uH(分档可调)
门级驱动 Gate Drive
最高电压 +20V
最低电压 -15V
最大电流 15A
驱动电阻 0-255Ω
器件类型 Device Type
测试器件类型 碳化硅MOSFET模块
测试封装类型 不同封装结构的功率模块
Temperature
测试设备工作温度 15-40℃
模块测试温度范围 室温-175℃